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[主观题]

男,40岁,诉后牙咀嚼不适,检查见左下6颊侧粘膜有瘘管。X线片示左下6根尖不规则透射区,边界不清。镜

下见根尖部炎性肉芽组织,中内细胞坏死液化,邻近牙骨质有吸收,应诊断为.

A.急性根尖周炎

B.慢性根尖周肉芽肿

C.根尖周肉芽肿

D.根尖周囊肿

E.慢性牙髓炎

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第1题

患儿,男,6岁,诉左下后牙肿痛3天。口腔检查见:()74牙冠远中邻面龋坏,叩(),松动Ⅱ°,颊侧牙龈肿胀,诊断为:()

A.乳牙滞留

B.龋病

C.根尖周炎

D.牙龈炎

E.牙周炎

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第2题

某男性患者,60岁。诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查见 牙体无明显病变,颊侧牙周袋深6mm,牙龈退缩可见

某男性患者,60岁。诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查见牙体无明显病变,颊侧牙周袋深6mm,牙龈退缩可见根分叉区完全开放,探针能水平通过分叉区,X线片显示根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分类法,属于

A.Ⅰ类根分叉病变

B.Ⅱ类根分叉病变

C.Ⅲ类根分叉病变

D.Ⅳ类根分叉病变

E.正常

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第3题

患者,男,60岁。诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查见牙体无明显病变,颊侧牙周袋深6mm,牙龈退缩可见根分
叉区完全开放,探针能水平通过分叉区,X线片显示根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分类法,属于

A、Ⅰ类根分叉病变

B、Ⅱ类根分叉病变

C、Ⅲ类根分叉病变

D、Ⅳ类根分叉病变

E、正常

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第4题

患者,男,65岁,戴全口义齿1周,诉咬颊侧黏膜,采取的主要调整方法为A、调磨上后牙颊尖舌斜面、下后牙

患者,男,65岁,戴全口义齿1周,诉咬颊侧黏膜,采取的主要调整方法为

A、调磨上后牙颊尖舌斜面、下后牙颊尖颊斜面

B、调磨上后牙颊尖和下后牙舌尖

C、调磨上后牙舌尖的颊斜面和下后牙颊尖的舌斜面

D、调磨上牙颊尖远中斜面和下牙舌尖近中斜面

E、以上均是

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第5题

患者,男,70岁,诉左上后牙咀嚼时敏感症状。检查:左上6咬合面磨耗严重,探诊敏感,叩(-),无松动,冷测

患者,男,70岁,诉左上后牙咀嚼时敏感症状。检查:左上6咬合面磨耗严重,探诊敏感,叩(-),无松动,冷测一过性敏感,诊断为

A、深龋

B、中龋

C、牙本质过敏症

D、逆行性牙髓炎

E、可复性牙髓炎

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第6题

患者,女,40岁,诉左上后牙咬物不适1个月,无冷热刺激不适。检查:6近中龋洞,探(-),叩(),松(-),牙髓

患者,女,40岁,诉左上后牙咬物不适1个月,无冷热刺激不适。检查:6近中龋洞,探(-),叩(),松(-),牙髓活力电测试无反应,X片示根尖区骨质破坏影。正确的诊断是

A、急性牙髓炎

B、慢性牙髓炎

C、急性根尖周炎

D、慢性根尖周炎

E、牙髓坏死

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第7题

王某,男,60岁,、缺失,可摘局部义齿初戴一个月,咀嚼时常咬颊黏膜,下颌舌侧第一磨牙至磨牙后垫区压

王某,男,60岁,缺失,可摘局部义齿初戴一个月,咀嚼时常咬颊黏膜,下颌舌侧第一磨牙至磨牙后垫区压痛,来医院就诊。咬颊黏膜的可能原因是A、平面过低

B、下颌后牙偏向舌侧

C、后牙覆盖过小

D、后牙覆过小

E、上颌后牙颊尖过高

消除咬颊黏膜的方法可采用A、加大前牙覆

B、加大后牙覆盖

C、升高平面

D、调改上颌后牙颊尖

E、调改下颌后牙舌尖

压痛区检查时应注意A、舌隆突区

B、上颌结节区

C、内斜嵴

D、舌侧系带区

E、磨牙后垫区

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第8题

根据下列条件,回答 66~68 题: 男,67岁, 缺失,可摘局部义齿初戴后1个月,咀嚼时常咬颊粘膜,下颌

根据下列条件,回答 66~68 题:

男,67岁, 缺失,可摘局部义齿初戴后1个月,咀嚼时常咬颊粘膜,下颌舌侧第一磨牙至磨牙后垫区压痛,来院复诊。

第 66 题 咬颊粘膜可能原因()。

A.胎平面过低

B.下颌后牙偏向舌侧

C.后牙覆颌过小

D.后牙覆盖过小

E.上颌后牙颊尖过高

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第9题

根据材料,回答 142~144 题。 男,62岁,缺失,可摘局部义齿初戴后一个月,咀嚼时常咬颊黏膜,下颌舌

根据材料,回答 142~144 题。

男,62岁,缺失,可摘局部义齿初戴后一个月,咀嚼时常咬颊黏膜,下颌舌侧第一磨牙至磨牙后垫区压痛,来院复诊。

第 142 题 咬颊黏膜可能原因

A.牙合平面过低

B.下牙合后牙偏向舌侧

C.后牙覆牙合过小

D.后牙覆盖过小

E.上颌后牙颊尖过高

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第10题

某研究采用菌斑指数(PlI)检查中学生的口腔卫生状况。如采用指数牙进行检查,所检查牙齿为A、右上6、
右上2、左上4、左下2、左下6、右下4

B、右上6、左上1、左上4、左下6、右下1、右下4

C、右上6、右上1、左上6、左下6、左下1、右下6

D、右上6、右上1、左上4、左下6、左下1、右下6

E、右上6、左上2、左上7、左下6、右下2、右下7

每颗指数牙的检查部位为A、唇颊侧正中

B、唇颊侧正中和舌腭侧正中

C、唇颊侧的远中、近中和舌腭侧正中

D、唇颊侧的远中、正中、近中和舌腭侧正中

E、唇颊侧和舌腭侧的远中、正中和近中

每部位记分为A、0或1分

B、0~2分

C、0~3分

D、0~4分

E、0~5分

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