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[判断题]

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()此题为判断题(对,错)。

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第1题

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

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第2题

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率。()
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第3题

用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。

A.愈高愈好

B.愈低愈好

C.不太高

D.较寻常时取高值

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第4题

用单探头发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率()

A.越高越好

B.越低越好

C.适当偏低的频率

D.较平常为高的频率

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第5题

用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。

A.愈高愈好

B.愈低愈好

C.不太高的频率

D.较寻常为高的频率

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第6题

用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率()。

A、愈高愈好

B、愈低愈好

C、不太高的频率

D、较寻常为高的频率

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第7题

用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。

A.面积大的,当量也一定大

B.面积大的,当量不一定比面积小的大

C.面积大的,当量反而比面积小的小

D.它们的当量相等

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第8题

用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。

A、面积大的,当量也一定大

B、面积大的,当量不一定比面积小的为大

C、面积大的,当量反而比面积小的要小

D、它们的当量相等

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第9题

在直接接触法直探头探伤时,底波消失的原因是:()。

A.耦合不良

B.存在与声束不垂直的平面缺陷

C.耦合太好

D.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

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第10题

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()

A.平行且靠近探测面

B.与声束方向平行

C.与探测面成较大角度

D.平行且靠近底面

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