题目内容（请给出正确答案）

[主观题]

X射线光谱分析中是以（)为分析依据的。

A、连续光谱

B、特征光谱

C、锐线光源

D、高速电子流

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第1题

X射线光谱分析中是以特征光谱线为（)。

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第2题

（)是以某种气体（甲烷等)在X射线或其他射线照射下产生电离而形成电脉冲为依据的核辐射探测器。

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第3题

X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。（)

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第4题

正比计数器（流气式或封闭式)、（)、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。

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第5题

X射线荧光光谱分析（XRF）主要检测岩样中（）的相对含量，通过对其组合特征分析来识别岩性

A.化学元素

B.矿物

C.碳酸盐

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第6题

X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。（)

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第7题

在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（)其比例是95%：5%。

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第8题

X射线元素录井，是采用元素光谱分析方法，用X射线激发岩样，检测岩样中化学元素的（)含量，通过对元素组合特征分析来识别岩性的一种技术方法。

A.相对

B.绝对

C.固定

D.有效

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第9题

光谱分析中的XPS是指X射线光电子能谱技术。

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第10题

【填空题】化学分析、光谱分析、X射线荧光光谱分析、X射线微区域分析等均可测定样品的元素组成，但却可鉴别样品中的物相。

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