下列适用于探测工件表面或近表面缺陷的技术是（）。

A.红外探测技术

B.超声波探伤技术

C.色谱分析技术

D.磁粉探伤技术

A.磁粉探伤

B.超声波探伤

C.光谱探伤

D.渗透探伤

E.涡流探伤

A.磁粉探伤

B.渗透探伤

C.涡流探伤

D.超声探伤

E.温度探伤

磁粉探伤适用于探测承压设备的（）。

A．表面及近表面缺陷

B．内部缺陷

C．贯穿性缺陷

D．体积缺陷

常用来检查内部结构缺陷的探伤技术是（）

A 磁粉探伤技术 B渗透擦伤技术

C 涡流探伤技术 D 超声探伤技术

A.温度探伤

B.磁粉探伤

C.渗透探伤

D.涡流探伤

E.γ射线探伤

常用来检查内部结构缺陷的探伤技术是（）

A．磁粉探伤技术

B．渗透擦伤技术

C．涡流探伤技术

D．超声探伤技术

A.温度探伤

B.磁粉探伤

C.渗透探伤

D.涡流探伤

E.y射线探伤