检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。（）

检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。

A.可变角探头

B.直探头

C.斜探头

D.收/发联合双晶探头

A.直探头、纵波斜探头、横波斜探头

B.双晶探头、纵波斜探头、横波斜探头

C.双晶探头、直探头、纵波斜探头、纵波双晶斜探头

D.双晶探头、直探头、横波斜探头

A.阻尼块

B.匹配线圈

C.延迟块

D.保护膜

超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是()探头。

A、接触式探头和液浸探头

B、纵波探头和横波探头

C、聚焦探头和非聚焦探头

D、单晶探头和双晶探头

A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行

B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点

C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点

D.底面第一次底波B1<50%满幅，移动探头使底波上升至50%满幅，以探头中心点为缺陷边界点