题目内容
（请给出正确答案）
[主观题]
试题（62）根据ANSI／IEEE829标准，（62）属于《测试案例说明》中的内容。①输入说明 ②测试目的 ③环境要求
试题（62）
根据ANSI／IEEE829标准，（62）属于《测试案例说明》中的内容。
①输入说明 ②测试目的 ③环境要求 ④特殊要求
（62）
A．① ② ③
B．① ③ ④
C．② ③
D．① ② ③ ④
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A.①②③
B.①③④
C.②③
D.①②③④
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第3题
● 根据ANSI／IEEE829标准, 以下（37） 属于《测试程序说明》中程序步骤的内容。 ① 启动 ② 目的 ③ 日志
● 根据ANSI／IEEE829标准, 以下（37） 属于《测试程序说明》中程序步骤的内容。
① 启动 ② 目的 ③ 日志 ④ 设置
（37）
A．①、②、③
B．①、③、④
C．②、③
D．①、②、③、④
第7题
（中南大学2009年考研试题)如图7一62所示电路，选uc和iL为状态变量，试列写该电路的状态方程。
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第9题
试题（62）、（63）正确识别风险点、非风险点、敏感点和权衡点是进行软件架构评价的关键步骤。其中 （62）
试题（62）、（63）
正确识别风险点、非风险点、敏感点和权衡点是进行软件架构评价的关键步骤。其中 （62） 是实现一个特定质量属性的关键特征，该特征为一个或多个软件构件所共有。“改变加密的级别可能会对安全性和性能都产生显著的影响”，这是一个对系统 （63） 的描述。
（62）
A. 风险点
B. 非风险点
C. 敏感点
D. 权衡点
（63）
A. 风险点
B. 非风险点
C. 敏感点
D. 权衡点
第10题
ANSI/ESD S20.20:2021根据ANSI/ESD STM11.11、ANSI/ESD STM11.12或ANSI/ESD STM11.13方法，以下哪组数据被称为绝缘体？（）
A.小于1E4欧姆
B.小于1E9欧姆
C.大于1E11欧姆
D.大于1E12欧姆
