某电子厂使用不合格率管制图,已知Σd=50,k=20,n=50则管制图下限(LCL)为:

A．因果图

B．散布图

C．直方图

D．管制图

A.预备数据的取得

B.计算样品不合格品率

C.计算p图的控制线

D.将各个样本不合格率点描出来

E.使用

A.不合格率

B.长度

C.重量

D.成分

E.不合格数

A.使用前状态已知

B.作图作用的数据20~30组

C.管制界限需计算

D.使用人员为品保人员

A.控制限就会变成城墙形状;

B.当子组变化在目标值±25%以内时，可以取子组平均值做为控制限;

C.必定控制限是一条直线，否则就不是控制图;

D.属于计数型控制图一种，并数据为二项分布。

A.不合格率降低

B.状况变好

C.不稳定

D.最理想

A.不合格率控制图

B.不合格品数控制图

C.产品缺陷数控制图

D.以上选项都是

A.均值-极差控制图

B.均值-标准差控制图

C.单值-移动极差控制图

D.不合格率控制图

A.c控制图

B.μ控制图

C.p控制图

D.np控制图