题目内容
（请给出正确答案）
[多选题]
关于不合格品率控制图的说法，正确的有（）。
A.子组大小可以不相等
B.子组大小相等时控制限为凹凸状，无法判异
C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化
D.用于分析过程不合格品率的波动
E.理论基础是指数分布
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A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C.P图中的各个子组大小可以不相等
D.P图的统计基础是二项分布
E.P图的统计基础是泊松分布
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第2题
关于建立p图的情况，下列说法不正确的是（)。A．B．C．D．p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为
关于建立p图的情况，下列说法不正确的是()。
A．
B．
C．
D．p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的
第3题
关于P控制图的说法，正确的有（）。
A.用于控制过程的不合格品率
B.当每个子组的大小不同时，常规P图的控制限呈凹凸状
C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽
D.统计基础为二项分布
E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
第4题
下列关于P控制图的叙述中，正确的有（）。
A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C.P图中的各个子组大小可以不相等
D.P图的统计基础是二项分布
E.P图的统计基础是泊松分布
