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[判断题]

在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关（）

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第1题

在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度无关（）

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第2题

在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度有关（）

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第3题

磁粉探伤是利用缺陷部分的磁阻较大，因而引起磁力线歪曲，产生漏磁通，使得均匀的磁粉在缺陷处积集，这样即可判断出缺陷的大小。（)

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第4题

在磁粉探伤过程中，根据被吸附铁粉的形状、数量、厚薄程度即可判断缺陷的大小和位置（）

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第5题

由磁粉探伤的理论可知，磁力线在缺陷处会断开，产生磁极并吸附磁粉

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第6题

磁粉探伤是利用缺陷处的______吸引磁粉，从而显示缺陷的存在，当磁力线与缺陷的破裂面______时，不产生磁痕显示

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第7题

由磁粉探伤的理论可知，磁力线在缺陷处会断开，产生磁极并吸附磁粉。

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第8题

磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时，当零件在磁场中磁化后会产生______来探测缺陷。

A.磁力线

B.涡流

C.漏磁场

D.次级磁场

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第9题

磁粉探伤能直观的显示缺陷的形状、位置、大小

A.Y.是

B.N.否

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第10题

能正确发现缺陷大小和形状的探伤方法是（）

A.x射线探伤

B.磁粉探伤

C.渗透探伤

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