非易失性随机存储器（NVRAM）在工作时数据不会丢失，断电后其内部保存的数据将丢失（）

A.DRAM(动态随机存储器)

B.NVRAM(非易失性随机存储器)

C.ROM(只读存储设备)

D.Flash(闪存)

A.DRAM(动态随机存储器)

B.NVRAM(非易失性随机存储器)

C.ROM(只读存储设备)

D.Flash(闪存)

A.ROM断电后内容不会丢失(非易失性)，RAM断电后内容立即消失(易失性)

B.ROM断电后内容立即消失(易失性)，RAM则不会(非易失性)

C.RAM属于内存储器，ROM属于外存储器

D.ROM属于内存储器，RAM属于外存储器

下列选项中关于只读存储器(ROM)与随机存储器(RAM)的区别，正确的是______。

A．ROM断电后内容不会丢失(非易失性)，RAM断电后内容立即消失(易失性)

B．ROM断电后内容立即消失(易失性)，RAM则不会(非易失性)

C．RAM属于内存储器，ROM属于外存储器

D．ROM属于内存储器，RAM属于外存储器

A.ROM 是非易失性存储器，存储运行 IOS。

B.闪存是非易失性存储器，包含 IOS 的有限部分。

C.RAM 是易失性存储器，存储 IP 路由表。

D.NVRAM 是非易失性存储器，存储 IOS 的完整版本。

E.ROM 是非易失性存储器，包含基本诊断软件。

A.ROM 是非易失性存储器，存储运行 IOS。

B.闪存是非易失性存储器，包含 IOS 的有限部分。

C.RAM 是易失性存储器，存储 IP 路由表。

D.NVRAM 是非易失性存储器，存储 IOS 的完整版本。

E.ROM 是非易失性存储器，包含基本诊断软件。

A.SRAM和DRAM都属于半导体随机存取存储器

B.磁带和磁盘都是采用直接存取方式的磁表面存储器

C.磁带、磁盘、光盘和优盘都属于非易失性存储介质

D.随机访问存储器采用地址译码方式选中被读/写单元

阅读下列说明，回答问题1至问题3，将解答填入答题纸的对应栏内。

【说明】

某嵌入式刹车控制软件，应用于汽车刹车控制器，该软件需求如下：

1模式选择：采集模式控制离散量信号In_ Dl并通过模式识别信号灯显示软件当前

工作模式。在信号In_D1为低电平时进入正常工作模式（模式识别信号灯为绿色），为

高电平时进入维护模式（模式识别信号灯为红色）。软件在正常工作模式下仅进行刹车控

制和记录刹车次数，在维护模式下仅进行中央控制器指令响应：

2刹车控制；采用定时中断机制，以5ms为周期采集来自驻车器发出的模拟量信号

In Al以及来自刹车踏板发出的模拟量信号In_ A2，井向刹车执行组件发送模拟量信号

Out _ A1进行刹车控制；

3记录刹车次数：在Out_ Al大于4V时，读出非易失存储器NVRAM中保存的刹

车次数记录进行加l操作，然后保存至非易失存储器NVRAM中:

4．响应中央控制器指令：接收来自中央控制器的串行口指令字超In_Sl，回进串行口

响应字Out_ Sl。当接收的指令字错误时，软件直接丢弃该命令字，不进行任何响应。

指令字及响应字说明如表3-1所示。

襄3-1指令字和响应宇

【问题1】（7分）

请简述本软件串行输入接口测试的测试策略及测试内容。针对袁3-1中“读取刹车

次数指令”进行鲁棒性测试时应考虑哪些情况？

【问题2】(6分)

某测试人员设计了表3-2所示的操作步骤对模式选择功能进行测试（表中END表示

用例到此结束）。

为进一步提高刹车控制软件的安全性，在需求中增加了设计约束：软件在单次运行

过程中，若进入正常工作模式，则不得再进入维护模式。请参照表3-2的测试用例完成

表3—3，用于测试该设计约束。

【问题3】（2分）

本项目在开发过程中通过测试发现了17个错误，后期独立测试发现了31个软件错

误，在实际使用中用户反馈了2个错误。请计算缺陷探测率(DDP)。

A.随机存取内存(RAM)

B.闪存(FLASH)

C.只读内存(ROM)

D.非易失性RAM(NVRAM)