当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。（）

tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线，则试品属于()。

A.良好绝缘

B.绝缘中存在气隙

C.绝缘受潮

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。()

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。()

进行绝缘试验时,被试品温度不应低于+50C。()

测量试品的绝缘电阻时，规定以加电压后60s测得的数值为该试品的绝缘电阻值。()

进行绝缘试验时,被试品温度不应低于()。

A.-50

B.00

C.+50

当直流电压加到被试品上时，绝缘介质内部或表面的带电粒子作定向移动形成的电流称为泄漏电流。()

A.试品电容量越大，影响越大

B.试品电容量越小，影响越小

C.试品电容量越小，影响越大

D.与试品电容量的大小无关