题目内容 (请给出正确答案)
[主观题]

CT成像设备中,探测器的几何效率是指()

A.探测器有效宽度

B.探测器有效宽度+无效空间

C.探测器有效宽度÷(探测器有效宽度+无效空间)

D.探测器有效宽度×(探测器有效宽度+无效空间)

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第1题

CT成像设备中,闪烁探测器内的闪烁晶体是()

A.NaI

B.CaO

C.CaCO3

D.NaC

E.NaO

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第2题

CT成像设备即将发生的重大变化是A.大孔径CTB.平板探测器CTC.多层螺旋CTD.双球管螺旋CTE.全身螺旋

CT成像设备即将发生的重大变化是

A.大孔径CT

B.平板探测器CT

C.多层螺旋CT

D.双球管螺旋CT

E.全身螺旋CT

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第3题

CT成像设备即将发生的重大变化是

A.大孔径CT

B.全身螺旋CT

C.多层螺旋CT

D.双层螺旋CT

E.平板探测器CT

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第4题

CT成像设备发展方向是 ()

A、平板探测器CT

B、全身螺旋CT

C、多层螺旋CT

D、双层螺旋CT

E、大孔径CT

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第5题

与本征探测效率无关的是()

A.探测器材料

B.辐射的能量

C.探测器在入射辐射方向的物理厚度

D.源和探测器之间的几何条件

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第6题

CT成像设备即将发生的重大变化是

A.大孔径CT

B.全身螺旋CT

C.多层螺旋CT

D.双层螺旋CT

E.平板探测器CT

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第7题

空间分辨率又称高对比分辨率,是指CT对物体空间大小的鉴别能力。下列主要影响因素,哪一项是错误的:()。

A.探测器的几何尺寸

B.被测物体的几何尺寸

C.探测器之间的间隙

D.图像重建的算法

E.探测器的数量和总数据量

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第8题

CT的成像方式是A.利用X线直接成像B.由探测器直接成像C.由非晶硒板直接成像D.经IP读取,计算机扫描

CT的成像方式是

A.利用X线直接成像

B.由探测器直接成像

C.由非晶硒板直接成像

D.经IP读取,计算机扫描成像

E.X线经模/数转换后,计算机重建成像

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第9题

CT的成像方式是A.利用X线直接成像B.由探测器直接成像C.由非晶硒板直接成像D.经IP板读取,计算机扫

CT的成像方式是

A.利用X线直接成像

B.由探测器直接成像

C.由非晶硒板直接成像

D.经IP板读取,计算机扫描成像

E.X线扫描的数据经计算机重建成像

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第10题

闪烁探测器中采用的闪烁体密度越高,则探测器的A、价格越高B、探测效率越高C、体积越大D、密封性越好E

闪烁探测器中采用的闪烁体密度越高,则探测器的

A、价格越高

B、探测效率越高

C、体积越大

D、密封性越好

E、运算速度越快

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第11题

CT的成像方式是A.利用X线直接成像B.X线经模/数转换后,由计算机重建成像C.由探测器直接成像D.经IP

CT的成像方式是

A.利用X线直接成像

B.X线经模/数转换后,由计算机重建成像

C.由探测器直接成像

D.经IP板读取,由计算机扫描成像

E.由非晶硒板直接成像

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