题目内容 (请给出正确答案)
[单选题]

进行全数检查,使用于剔除不合格品的产品数据作出的直方图为()

A.锯齿型

B.陡壁型

C.双峰型

D.偏态型

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第1题

在制作直方图时,如果分组过多,容易出现()

A.偏态型

B.平顶型

C.双峰型

D.锯齿型

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第2题

两种不同类型的数据混合一起,绘制的直方图属于()。

A.偏态型

B.双峰型

C.缺齿型

D.绝壁型

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第3题

进行工程质量统计分析时,因分组组数不当绘制的直方图可能会形成()直方图。

A.折齿型

B.孤岛型

C.双峰型

D.绝壁型

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第4题

由于原材料或操作方法的显著变化所致的非正常型直方图为()。

A.孤岛型

B.折齿型

C.缓坡型

D.双峰型

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第5题

常见的直方图形状有().

A.正常型

B.偏向型

C.双峰型

D.孤岛型

E.平顶型

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第6题

标示制程为两种不同的之分配组合是()直方图。

A.离岛型

B.高原型

C.削壁型

D.双峰型

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第7题

工具磨损或松动时,所绘制出的直方图会呈现()。

A.偏态型

B.高原型

C.高原型

D.离岛型

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第8题

资料经过全检或制程本身经过全检,所绘制出的直方图会呈现()。

A.绝壁型

B.高原型

C.双峰型

D.离岛型

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第9题

直方图仅适合用于显示连续型分组数据。()
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第10题

下列哪种方式有助于为改变材料的逸出功,提升光电发射的几率()。

A.P型半导体P型表面态

B.P型半导体N型表面态

C.N型半导体P型表面态

D.N型半导体N型表面态

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