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第1题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有（)种调整制冷方式。
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第2题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障，可能是（)。
A.热靶故障
B.探头温控板故障
C.校零板故障
D.磁钢板故障
第3题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的（)变化。
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第4题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，则用万用表测量探头温控板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换（)。
A.磁钢板
B.A/D采集板
C.热靶温控板
D.探头温控板
第5题
THDS-C探测站中，如果出现光子探头定标时温度误差大可能原因是（)。
A.热靶铂电阻故障
B.热靶涂层脱落
C.探头元温错误
D.板温读取错误
E.以上都不对
第6题
THDS-C探测站探头箱上箱体总成中的铂电阻温度转换盒可以完成（)的温度信号转换。
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第7题
THDS£A（康拓)红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（)控制的。
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第8题
THDS-BS系统制冷板是控制碲镉汞光子器件温度的电路板，实现对左右两侧光子探头的制冷温度控制。（)
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第9题
THDS-C探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是（)。
A.热靶温控板故障
B.前放板故障
C.IO卡故障
D.制冷控制板故障
第10题
THDS-C探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是（)造成的。
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