红外线测温仪技术可对有热变化表面进行扫描测温，确定其（)分布图像，迅速检测出隐藏的温度。

A.使用红外测温仪对准表体，选择表体深色区域作为测量点，测量三次取中间值

B.使用红外测温仪对准表体，选择表体深色区域作为测量点，测量二次取中间值

C.如使用接触式测温探头测量表体温度，应将探头尽可能靠近或紧密接触SF6密度表(继电器)，温度平衡时间一般不小于0.5小时，温度稳定后方可读取表体温度

D.如使用接触式测温探头测量表体温度，应将探头尽可能靠近或紧密接触SF6密度表(继电器)，温度平衡时间一般不小于1小时，温度稳定后方可读取表体温度

A.蜡试(熔蜡程度)

B.半导体点温仪

C.红外线测温仪

D.测温片

A.测温范围广

B.不方便测量物体内部温度

C.不受环境影响

D.测量速度快、准确度高

A.温度

B.压力

C.相对分子质量

D.温度、压力和相对分子质量

A.使用方便

B.重复精度±5%

C.测温准确

D.量程大，可测量0.6~无穷大

A.信号的性质不同，热电阻是电阻值随温度变化而变化

B.信号的性质不同，热电偶是感应电压随温度变化而变化

C.测温处材质不同，热电阻采用一种对温度变化敏感的材质制成

D.测温处材质不同，热电偶由两种导电性能优异的材料制成

A.温度跃层

B.盐跃层

C.密度跃层

D.营养跃层