在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为（)

A.透射电镜

B.扫描电镜

C.光学显微镜

D.X射线衍射

A.干涉显微镜测量

B.光切显微镜测量

C.轮廓仪测量

D.样板比较法

A.拉力机

B.二次元

C.显微镜

D.千分尺

A.尺寸

B.形状

C.角度

D.位置

A.测量显微镜

B.推晶机

C.透视机

A.由不同操作人员，采用相同的测量仪器，测量不同零件的同一特性时测量平均值的变差

B.由不同操作人员，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差

C.由不同操作人员，采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差

D.由相同操作人员，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差

A.100X显微镜下观察

B.200X显微镜下测量

C.测量芯片四个角和中间bump

D.测量最大扁平直径数值

A.间隙

B.重叠

C.中心十字线

D.双平行线