前道EL短路测试标准（）

A.长度≤1/3电池片变成，单片数量≤1处，60版型数量≤1片，72版型数量≤2片

B.带失效面积的隐裂及交叉隐裂不允许

C.允许带失效面积的隐裂及交叉隐裂

D.长度≤1/3电池片变成，单片数量≤2处，60版型数量≤1片，72版型数量≤2片

A.长度≤1/3电池片变成，单片数量≤1处，60版型数量≤1片，72版型数量≤2片

B.长度≤2/3电池片变成，单片数量≤1处，60版型数量≤1片，72版型数量≤2片

C.长度≤1/3电池片变成，单片数量≤2处，60版型数量≤2片，72版型数量≤4片

D.长度≤2/3电池片变成，单片数量≤2处，60版型数量≤2片，72版型数量≤4片

A.皮带印/吸盘印

B.黑芯片/同心圆

C.亮片

D.短路

A.单片缺陷面积≤2%，允许

B.单片缺陷面积≤5%，允许

C.单片缺陷面积≤10%，允许

D.不允许

A.2片顶骨,1片枕骨

B.2片额骨,1片枕骨

C.2片顶骨,2片额骨

D.2片颞骨,1片枕骨

E.2片顶骨,2片颞骨

A.2片顶骨,1片枕骨

B.2片额骨,1片枕骨

C.2片顶骨,2片额骨

D.2片颞骨,1片枕骨

E.2片顶骨,2片颞骨

A.3片

B.4片

C.6片

D.7片

A.单片缺陷面积≤2%，不允许

B.灰黑色线条构成的区域面积不计入断栅面积内

C.单片缺陷面积>5%，允许

D.2%<单片缺陷面积≤5%，缺陷电池片数量≤15%组件电池片数量

A.缺陷跨度>1/15对角线长度，允许

B.缺陷跨度<1/20对角长度，数量不计

C.1/20<缺陷跨度≤1/15对角长度，允许缺陷电池片数量≤15%组件电池片数量

D.不允许

A.10秒

B.15秒

C.20秒

D.25秒

A.每次1片qd

B.每次1片bid

C.每次1片tid

D.每次2片qd

E.每次2片bid