空位和间隙原子属于点缺陷，点缺陷的存在使体系的能量升高，故随温度升高，原子的活动能力增强，点缺陷数目将下降。

A.体缺陷

B.线缺陷

C.面缺陷

D.点缺陷

A.得到特定波长和强度的锐线光谱

B.将试样中的杂质除去，消除干扰

C.提供足够能量使试样灰化

D.蒸发、离解和激发

A.X射线

B.紫外及可见光

C.红外光

D.微波

A.容器内存在放热的化学反应

B.放出的热量不能及时移出反应系统之外

C.体系温度升高导致蒸气压急剧上升或反应生成大量气体

D.安全泄压装置不能有效泄压

A.指同一区域内同时含有施主和受主杂质原子的半导体

B.n型半导体中材料中注入受主杂质原子

C.p型半导体中材料中注入受主杂质原子

D.补偿型半导体性质完全取决于杂质浓度Na与Nd的数目

A.加入释放剂

B.加入保护剂

C.提高火焰温度

D.改变光谱通带