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[主观题]

用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。

答案

A

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第1题

EPMA-SEM基于（）、（）等进行形貌观察。

A.二次电子、吸收电子

B.透射电子、背散射电子

C.Auger电子、二次电子

D.背散射电子

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第2题

扫描电镜的分辨率用（）信号代表。

A.俄歇电子

B.背散射电子

C.二次电子

D.特征X射线

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第3题

扫描电镜中二次电子像比背散射电子像的分辨率高。

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第4题

（）是从距样品表面10 nm左右深度范围内激发出来的低能电子。（）

A.二次电子

B.背散射电子

C.透射电子

D.吸收电子

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第5题

汤逊放电理论可用电子崩（α过程）+ 二次电子产生过程（γ过程）来描述

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第6题

在Photoshop新建画布时设置了一定分辨率，在画布上进行编辑与绘制后，不能再对其分辨率进行修改。

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第7题

原子力显微镜（AFM）的原理是利用了（）。

A.样品表面的升降

B.隧道电流

C.一次电子

D.二次电子

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第8题

A/D转换器的分辨率与转换精度的关系是（）。

A.分辨率越高，转换精度越低

B.分辨率高，转换精度一定高

C.分辨率与转换精度没有关系

D.分辨率高，但由于温度等原因，其转换精度不一定高

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第9题

用DFT对一个32点的离散信号进行谱分析，其谱显示分辨率决定于谱采样的点数N，即，频谱显示分辨率越高。

A.N越大

B.N越小

C.N=32

D.N=64

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