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[单选题]

对于正态分布的过程,有关、和缺陷率的说法,正确的是()

A.根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

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第1题

对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()

A.根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk都能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

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第2题

对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是:()。

A.根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

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第3题

对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()

A. 根据Cp不能估计缺陷率, 根据Cpk才能估计缺陷率

B. 根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C. 缺陷率与Cp和pk无关

D. 以上说法都不对

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第4题

对于压力容器的超声波检测,下列说法正确的是()。 A 对面积性缺陷的检出率较高 B 对体积性缺陷

对于压力容器的超声波检测,下列说法正确的是()。

A 对面积性缺陷的检出率较高 B 对体积性缺陷的检出率较高

C 现场使用方便 D 检验成本低

E检验成本高

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第5题

与产品和服务有关的过程质量特性指标有:单位缺陷数、机会缺陷率和百万机会缺陷数、最终合格率、一次合格率、过程能力指数、过程绩效指数等。()
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第6题

有关制程能力分析中的过程能力与过程绩效,下列叙述何者错误:

A.过程能力数据必须为正态分布

B.过程绩效数据必须为正态分布

C.制程能力分析公式中所使用的标准差是样本标准差

D.只要知道Cpk便能换算制程不良率

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第7题

对于压力容器的超声波检测,下列说法正确的是()。

A.对面积性缺陷的检出率较高

B.对体积性缺陷的检出率较高

C.现场使用方便

D.检验成本低

E.检验成本高

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第8题

关于正态分布的说法,正确的是()。

A.单峰对称分布均属于正态分布

B.总面积与均数位置有关

C.总面积与标准差大小有关

D.对称区域面积相等

E.对数正态分布是正态分布的特例

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第9题

25、关于正态分布曲线的形状和位置,下列说法正确的是

A.正态分布曲线的形状和位置只与总体平均值有关

B.正态分布曲线的形状和位置只与总体标准偏差有关

C.总体平均值决定正态分布曲线的形状,总体标准偏差决定正态分布曲线的位置

D.总体平均值决定正态分布曲线的位置,总体标准偏差决定正态分布曲线的形状

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