对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是()

A．根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率

B．根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C．缺陷率与Cp和Cpk无关

D．以上说法都不对

A． 根据Cp不能估计缺陷率, 根据Cpk才能估计缺陷率

B． 根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C． 缺陷率与Cp和pk无关

D． 以上说法都不对

A.根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

A.过程能力数据必须为正态分布

B.过程绩效数据必须为正态分布

C.制程能力分析公式中所使用的标准差是样本标准差

D.只要知道Cpk便能换算制程不良率

A.发生率

B.严重度

C.检测率

D.缺陷数

A.0.57

B.3.4

C.63

D.233

A.缺陷录入及时率

B.缺陷消缺及时率

C.缺陷主要字段填写率

D.缺陷完整性、准确性

A.直方图

B.散布图

C.正态分布图

D.排列图

对于任意的正态分布，都可以转化为标准正态分布。()