下列不能用卡方检验的是（）

A.两个及两个以上样本均数的比较

B.配对设计两个样本率的比较

C.两个样本率的比较

D.多个样本率的比较

E.多个样本构成比的比较

A.两个及两个以上样本均数的比较

B.配对设计两个样本率的比较

C.多个样本率或构成比的比较

D.频数分布的拟合优度检验

E.率的线性趋势检验

A.两个或多个样本均数的比较

B.两个或多个总体均数的比较

C.两个或多个样本率的比较

D.两个或多个总体率的比较

E.分类资料的相关分析

A.不能进行两两比较的t检验，因为计算量太大

B.不能进行两两比较的t检验，因为犯Ⅰ型错误的概率会增大

C.如果各样本均来自方差相同的正态总体，则可以直接进行两两比较的t检验

D.不能进行两两比较的t检验，因为犯Ⅱ型错误的概率会增大

A.样本来自正态总体

B.两样本均数比较时，要求两样本总体方差齐同

C.两小样本的比较

D.两大样本的比较

E.两样本构成比的比较

A.多个平均数间的互比

B.显著性测验

C.LSD法

D.SSR法

A.配对t检验

B.Satterthwaite t'检验

C.两独立样本均数比较t检验

D.方差齐性检验

A.设计要求的满足程度

B.设计内容的难易程度

C.个性特色是否突出

D.修改调整的可能性