第1题
第2题
A.探测近表面缺陷
B.精确测定缺陷长度
C.精确测定缺陷高度
D.用于表面缺陷检测
第3题
第4题
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
第5题
第6题
第7题
第8题
A.用双晶探头
B.使用窄脉冲宽频带探头
C.提高探头频率,减小晶片尺寸
D.以上都是
第9题
第10题
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