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[判断题]

在UT中双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。（）

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第1题

双晶探头用于探测工件近表面缺陷。（)

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第2题

双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。（)

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第3题

双晶超声波探头直盲区短，主要用于检测近表面缺陷。（）

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第4题

双晶超声波探头直盲区短，主要用于检测近表面缺陷。（)

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第5题

双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。（)

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第6题

双晶直探头的最主要用途是（)。

A.探测近表面缺陷

B.精确测定缺陷长度

C.精确测定缺陷高度

D.用于表面缺陷检测

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第7题

检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。（)

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第8题

检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。（）

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第9题

表面波探头用于探测工件（)缺陷。

A.近表面

B.表面

C.内部

D.平面形

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第10题

双晶探头用于探测工件()缺陷。

双晶探头用于探测工件（)缺陷。

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第11题

检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头。（)

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