关于Cp与Cpk的说法，正确的有（）。

下列关于Cp和Cpk的说法中，不正确的是()。

A．Cp越大，质量能力越强

B．有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数，Cpk越大，则二者偏离越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果

C．Cp的着重点在于质量能力

D．Cpk的着重点在于管理能力，没有考虑质量能力

A.不要单独使用这两个指数之中的一个，应结合起来衡量过程能力

B.若Cp较大，而Cpk很小，二者差别较大，说明过程的主要问题是μ偏离M太多

C.如果Cp本身不够好，Cpk更小，说明过程的σ有问题，而μ没有问题

D.这两个指数都可以用来衡量过程均值与规格中心一致时的过程能力

A.过程能力的大小与公差无关

B.Cp等于公差除以3倍的过程质量特性标准差

C.Cp值越大，表明过程质量特性的离散程度越大

D.Cp与CpK的差反映了过程分布中心与规范中心的偏离程度

E.Cp=l时，99.73％的过程输出将在规范范围内

A.CP>=CPK

B.CPK>=CP

C.CP很大，CPK很小，说明过程的散布很小，均值偏离中心很大

D.CP很大，CPK很小，说明过程的散布很大，均值偏离中心很小

A.对于过程能力（Cp, Cpk）研究有重要意义

B.对于测量系统分析研究有重要意义

C.重点在于过程波动而不在于过程规范

D.对于区分优劣产品具有重要意义

A.根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk都能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

A.根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

A.根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率

B.根据Cp和Cpk才能估计缺陷率

C.缺陷率与Cp和Cpk无关

D.以上说法都不对

A.Cpk是过程能力指数，它应用于所有的数据类型

B.当发现过程能力不足时，应采取措施

C.过程能力指数Cp与过程的规格界限有关

D.控制图的目的是测量过程能力

A.Cpk是过程能力指数，它应用于所有的数据类型

B.当发现过程能力不足时，应采取措施

C.过程能力指数Cp与过程的规格界限有关

D.控制图的目的是测量过程能力