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[单选题]

切割晶片中检查时,发觉刀痕不在切割道中央(即将切偏)操作员应怎样处理?()

A.无需调正,继续生产;

B.刀痕未切入晶粒铝面可继续生产;

C.必须立即停机,调校刀痕至切割道中间位置,并跟进至合符切割品质要求

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第1题

对于接触性测高机台切割检查时,刀痕过深怎样处理?()

A.可按升刀痕(5/次);还未OK,需找机修处理

B.手动测高就行

C.找小组长或机修处理

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第2题

切割Wafer时机器报警刀痕过浅造成的原因?()

A.参数问题

B.切割台问题

C.测高问题

D.ABC

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第3题

晶片切割坏品模式底裂造成的原因?()

A.刀痕不好

B.切割速度太快

C.用错刀

D.ABC

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第4题

当铣削一圆型腔时,为保证不产生切入、切出的刀痕,刀具切入、切出时应采用()。

A.法向切入、切出方式

B.切向切入、切出方式

C.任意方向切入、切出方式

D.切入、切出时应降低进给速度

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第5题

切割Wafer时机器报警切痕检查:没寻到造成的原因?()

A.光源太亮或太黑

B.CCD光源未在有晶粒位置上检查

C.机器误检查

D.ABC

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第6题

晶圆厚度≤200μm的易背崩且划道内存在铝垫产品划片时选用()模式切割

A.DAD3350单轴切割

B.DAD321单轴切割

C.双轴STEP切割模式

D.双轴DUAL

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第7题

测高时,机器出现测高错误,操作员应怎样处理?()

A.解除报警继续摆Wafer便可

B.开维修单通知机修修机

C.重新测高一次若OK继续摆Wafer切割;若再次出现测高错误需开维修单通知机修修机

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第8题

切割时发现任何品质问题,怎样处理?()

A.切割完后目检时100%检查就OK

B.需先备注叠卡,目检时要100%检查,如需扣数的要在扣数表记录

C.找小组长或机修处理

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第9题

划片刀痕伤及有效区域铝路损伤超过()宽度判定为不良

A.43832

B.43864

C.43834

D.43833

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第10题

划片刀痕伤及有效区域铝路损伤超过()宽度判定为不良。

A.1/2

B.2/3

C.1/4

D.1/3

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