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[判断题]

凡金属物残留在焊点上无法用20PSI气枪或纯水洗掉者,或污染物附着芯片表面且面积大于芯片面积5%为不良。()

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第1题

上芯机生产的产品单个空洞面积()芯片面积为不良,合计空洞面积芯片面积为不良。

A.>3%

B.>5%

C.>3%

D.>10%

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第2题

芯片四周角上缺损面积()的芯片面积为不良。

A.≥5%

B.≥15%

C.≥10%

D.≥8%

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第3题

芯片边缘崩缺伤及芯片表面有效区域为不良。()
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第4题

背金属晶圆(背金或背银)背金属如有脱落,下面哪些说法是正确的()。

A.背金属脱落不会造成产品电性能不良

B.单个芯片镀层脱落≥10%为不良

C.整个圆片镀层脱落≥5%为不良

D.整个圆片镀层脱落≥20%为不良

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第5题

芯片倾斜度大于25.4μm为不良。()
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第6题

检验过程中,发现无法识别异常或异常芯片数量≥()来料芯片数量,反馈工艺员确认处理。

A.2﹪

B.1﹪

C.5﹪

D.3﹪

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第7题

“等面积补强法”的计算原则是:处于补强有效区内的补强金属截面面积,应该至少等于或大于被削去的金属截面面积。()
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第8题

封装形式的决定因素之一是封装效率,即:芯片面积/封装面积,尽量接近1:1。()
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第9题

芯片正确插入芯片座的方向为缺口向右或芯片标识位置位于右下角()
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第10题

芯片正确插入芯片座的方向为缺口向左或芯片标识位置位于左下角()
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