在扫描电镜中，常用（）信号来显示成分（原子虚数）衬度

A.俄歇电子

B.背散射电子

C.二次电子

D.特征X射线

A.（A）特征X射线

B.（B）二次电子

C.（C）背散射电子

D.（D）反冲电子

A.背散射电子

B.俄歇电子

C.特征X射线

D.荧光X射线

A.二次电子、吸收电子

B.透射电子、背散射电子

C.Auger电子、二次电子

D.背散射电子

A.二次电子

B.背散射电子

C.透射电子

D.吸收电子

A.TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。

B.SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。

C.TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。

D.EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。

A.形貌衬度

B.成分衬度

C.质厚衬度

D.衍射衬度

A.原子

B.外层电子

C.内层电子

D.原子实