题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

下列说法正确的是（）。

A.TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。

B.SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。

C.TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。

D.EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。

答案

错误

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第1题

EPMA-SEM基于（）、（）等进行形貌观察。

A.二次电子、吸收电子

B.透射电子、背散射电子

C.Auger电子、二次电子

D.背散射电子

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第2题

用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。

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第3题

（）是从距样品表面10 nm左右深度范围内激发出来的低能电子。（）

A.二次电子

B.背散射电子

C.透射电子

D.吸收电子

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第4题

透射电子显微镜配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合，是X射线衍射无法比拟的优点。

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第5题

1. 电子探针分析用的物理信号是电子束作用样品后产生的

A.（A）特征X射线

B.（B）二次电子

C.（C）背散射电子

D.（D）反冲电子

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第6题

扫描电镜的分辨率用（）信号代表。

A.俄歇电子

B.背散射电子

C.二次电子

D.特征X射线

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第7题

透射电子显微镜具有景深好、图像立体感强的优点，可观察样品的表面形态，但缺点是不能观察到样品内部的结构。

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第8题

判断题显微镜可以观察表面形貌，也可以得到表面的高度信息

A.Y.是

B.N.否

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第9题

（）用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主。

A.TEM

B.SEM

C.电子探针EPMA

D.XRD

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